Articolo PDF (0,14 Mb)
Consultabile solo con Adobe Acrobat Reader (scopri come)
Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio
P. 155-173
Fa parte di
ArtefaCToS : revista del Instituto de Estudios de la Ciencia y la Tecnología : 7, 1, 2018-
Articoli dello stesso fascicolo (disponibili singolarmente)
-
Informazioni
ISSN: 1989-3612