Zapata Clavería, Miguel Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio 2018 - Ediciones Universidad de Salamanca Fa parte di ArtefaCToS : revista del Instituto de Estudios de la Ciencia y la Tecnología : 7, 1, 2018 Opzioni d'uso Download Copia/Incolla Stampa Download Leggi Online PDF a Articolo