Zapata Clavería, Miguel Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio 2018 - Ediciones Universidad de Salamanca Fait partie de ArtefaCToS : revista del Instituto de Estudios de la Ciencia y la Tecnología : 7, 1, 2018 Options d'usage Télécharger Copier coller Impression Télécharger Visualiser PDF a Article