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Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio
P. 155-173
Ist Teil von
ArtefaCToS : revista del Instituto de Estudios de la Ciencia y la Tecnología : 7, 1, 2018-
Artikel aus derselben Ausgabe (einzeln erhältlich)
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Informationen
ISSN: 1989-3612