Dahoo, Pierre-Richard | El Hami, Abdelkhalak | Pougnet, Philippe

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

2021 - John Wiley et Sons Ltd.

E-book EPUB

Pris en charge uniquement par Torrossa Reader (voir détails)

Dahoo, Pierre-Richard | El Hami, Abdelkhalak | Pougnet, Philippe

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

2021 - John Wiley et Sons Ltd.

315195 characters.

Informations
ISBN: 9781119808145

Permalink: http://digital.casalini.it/9781119808145
DISCIPLINES
- Ingénierie et activités connexes
- Engineering, Civil Engineering

EUR 146,86

TVA exclue

EPUB

Options d'usage

Download

Copier coller

Impression

Espace de travail